贸泽电子联合adi打造高效测试解决方案

半导体测试是半导体生产过程中的重要环节，其中，测试机是检测芯片功能和性能的专用设备，需要具有高度集成、高效率和高精度等特点。对于需要高性能、高可靠、高性价比解决方案的 ic 测试应用，adi 提供了整体的解决方案。本次直播将重点为观众介绍集成式引脚电子器件 （pe）、器件电源（dps）、参数测量单元 （pmu）、参考设计方案，帮助工程师能够更好地掌握测试环节中的重要因素，实现更为便捷和高效的测试。

贸泽电子亚太区市场及商务拓展副总裁田吉平女士表示：“随着芯片性能的提升，芯片的设计也越来越复杂，为了保障产品品质，出货前的半导体测试已然成为非常重要的部分。对于测试工程师来说，利用良好的测试系统可以获得较好的测试覆盖率，而测试系统硬件和软件的性能不仅影响测试方法，更造成测试的精确度、灵活度及难易度等方面的差别。为了让工程师在测试应用中，能在特定的情况下找到最佳解决方案，贸泽电子特邀adi专家分享相关课程，深入探讨和剖析ic测试过程中所用到的器件，结合adi的全面解决方案，助力工程师轻松应对测试中的各类挑战，提高测试质量。”